Diffusion Studies in Au-Ni Thin Film Couples Using Optical Reflectivity Technique

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of electronic materials 1973-05, Vol.2 (2), p.331-339
Hauptverfasser: Judy, M M, Koliwad, K M
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0361-5235