Introduction to a special issue on Frontiers of Aberration Corrected Electron Microscopy in honour of Christian Colliex, Archie Howie and Hannes Lichte on the occasion of their 75th, 85th and 75th birthdays

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Ultramicroscopy 2019-08, Vol.203, p.1-1
Hauptverfasser: Dunin-Borkowski, Rafal E., Mayer, Joachim, Sachse, Carsten, Tillmann, Karsten
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0304-3991
1879-2723
DOI:10.1016/j.ultramic.2019.02.008