XPS studies of thin polycyanurate films on silicon wafers
Thin films of a diandicyanato bisphenol A (DCBA) prepolymer on silicon substrates have been investigated. Angle dependent X-ray photoelectron spectroscopy reveals some thickness-dependent features, which lead to an adsorption model for the DCBA prepolymer molecules. The adsorption of the first layer...
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Veröffentlicht in: | Analytical and bioanalytical chemistry 1995-10, Vol.353 (3-4), p.278-281 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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