XPS studies of thin polycyanurate films on silicon wafers

Thin films of a diandicyanato bisphenol A (DCBA) prepolymer on silicon substrates have been investigated. Angle dependent X-ray photoelectron spectroscopy reveals some thickness-dependent features, which lead to an adsorption model for the DCBA prepolymer molecules. The adsorption of the first layer...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Analytical and bioanalytical chemistry 1995-10, Vol.353 (3-4), p.278-281
Hauptverfasser: DIECKHOFF, S, SCHLETT, V, POSSART, W, HENNEMANN, O.-D
Format: Artikel
Sprache:eng
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