Microwave penetration depth measurements on Bi2Sr2CaCu2O8 single crystals and YBa2Cu3O7-δ thin films

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review letters 1993-08, Vol.71 (5), p.781-784
Hauptverfasser: ZHENGXIANG MA, TABER, R. C, LOMBARDO, L. W, KAPITULNIK, A, BEASLEY, M. R, MERCHANT, P, EOM, C. B, HOU, S. Y, PHILLIPS, J. M
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0031-9007
1079-7114
DOI:10.1103/PhysRevLett.71.781