$X-ray-diffraction measurements from imperfect GaAs crystals: Evidence for near-surface defects$

X-ray-diffraction measurements from imperfect GaAs crystals: Evidence for near-surface defects

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. B, Condensed matter Condensed matter, 1990-09, Vol.42 (8), p.5093-5099
Hauptverfasser:	Bloch, R, Bahr, D, Olde, J, Brügemann, L, Press, W
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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