Direct measurement of surface diffusion using atom-tracking scanning tunneling microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review letters 1996-01, Vol.76 (3), p.459-462
1. Verfasser: Swartzentruber, BS
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0031-9007
1079-7114
DOI:10.1103/physrevlett.76.459