Direct measurement of surface diffusion using atom-tracking scanning tunneling microscopy
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Veröffentlicht in: | Physical review letters 1996-01, Vol.76 (3), p.459-462 |
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1. Verfasser: | |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 0031-9007 1079-7114 |
DOI: | 10.1103/physrevlett.76.459 |