Structural characterization of the Si(111)-CaF2 interface by high-resolution transmission electron microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review letters 1988-11, Vol.61 (19), p.2274-2274
Hauptverfasser:	Tromp, RM, LeGoues, FK, Krakow, W, Schowalter, LJ
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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