High-resolution electron-energy-loss spectroscopy of thin films of C60 on Si(100)

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review letters 1991-10, Vol.67 (16), p.2171-2174
Hauptverfasser: GENSTERBLUM, G, PIREAUX, J. J, THIRY, P. A, CAUDANO, R, VIGNERON, J. P, LAMBIN, P, LUCAS, A. A, KRÄTSCHMER, W
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0031-9007
1079-7114
DOI:10.1103/PhysRevLett.67.2171