Erbium point defects in silicon

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. B, Condensed matter Condensed matter, 1993-06, Vol.47 (23), p.15533-15536
Hauptverfasser:	NEEDELS, M, SCHLÜTER, M, LANNOO, M
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties Electron states Exact sciences and technology Impurity and defect levels Physics
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