Quantitative scanning tunneling microscopy at atomic resolution: Influence of forces and tip configuration

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review letters 1996-02, Vol.76 (8), p.1276-1279
Hauptverfasser: Clarke, AR, Pethica, JB, Nieminen, JA, Besenbacher, F, Lægsgaard, E, Stensgaard, I, I
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0031-9007
1079-7114
DOI:10.1103/physrevlett.76.1276