Quantitative scanning tunneling microscopy at atomic resolution: Influence of forces and tip configuration
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Physical review letters 1996-02, Vol.76 (8), p.1276-1279 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | |
---|---|
ISSN: | 0031-9007 1079-7114 |
DOI: | 10.1103/physrevlett.76.1276 |