Microscopic structure of interfaces in Si1-xGex/Si heterostructures and superlattices studied by x-ray scattering and fluorescence yield

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. B, Condensed matter Condensed matter, 1993-06, Vol.47 (24), p.16373-16381
Hauptverfasser:	Ming, ZH, Krol, A, Soo, YL, Kao, YH, Park, JS, Wang, KL
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!