Depth profiles of interstitial halogen defects in high-energy ion-bombarded RbI by micro-Raman spectroscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. B, Condensed matter Condensed matter, 1996-05, Vol.53 (17), p.11365-11368
Hauptverfasser: Pariselle, MA, Lefrant, S, Balanzat, E, Ramstein, B, Comins, JD
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0163-1829
1095-3795
DOI:10.1103/PhysRevB.53.11365