ESR in layer-substrate structures: the line shape and nondestructive contactless measurements of the layer conductivity

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. B, Condensed matter Condensed matter, 1986-11, Vol.34 (10), p.7260-7270
Hauptverfasser:	ZEVIN, V, SUSS, J. T
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties Conductivity phenomena in semiconductors and insulators Electronic transport in condensed matter Exact sciences and technology General theory, scattering mechanisms Physics
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