Introduction to a special issue on Frontiers of Aberration Corrected Electron Microscopy in honour of Robert Sinclair and Nestor J. Zaluzec on the occasion of their 70th and 65th birthdays
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Veröffentlicht in: | Ultramicroscopy 2017-05, Vol.176, p.1-1 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 0304-3991 1879-2723 |
DOI: | 10.1016/j.ultramic.2016.12.004 |