Deuterium microscopy using 17MeV deuteron–deuteron scattering
Using 17MeV deuterons as a micrometer focused primary beam, we performed deuterium microscopy by using the deuteron–deuteron (dd) scattering reaction. We describe our new box like detector setup consisting of four double sided silicon strip detectors (DSSSD) with 16 strips on each side, each coverin...
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Veröffentlicht in: | Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms Beam interactions with materials and atoms, 2016-03, Vol.371, p.178-184 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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