Monolithic SOI pixel detector with a wide dynamic range and a high frame rate for FEL-applications
Monolithic pixel detector implemented in 200 nm silicon-on-insulator technology for x-ray imaging applications will be presented. The detection is based on a fully-depleted high-resistance substrate, isolated by the buried silicon dioxide from the electronics layer. The pixel electronics contains a...
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Veröffentlicht in: | Journal of instrumentation 2014-05, Vol.9 (5), p.C05031-C05031 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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