Constraints on Models of Electrical Transport in Optimally Doped La2−x Sr x CuO4 from Measurements of Radiation-Induced Defect Resistance

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of superconductivity and novel magnetism 2010-04, Vol.23 (3), p.339-342
Hauptverfasser: Clayhold, J. A., Pelleg, O., Ingram, D. C., Bollinger, A. T., Logvenov, G., Rench, D. W., Kerns, B. M., Schroer, M. D., Sundling, R. J., Bozovic, I.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1557-1939
1557-1947
DOI:10.1007/s10948-009-0580-8