Dual-beam versus single-beam depth profiling: Same sample in same instrument

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Rapid communications in mass spectrometry 2013-12, Vol.27 (24), p.2828-2832
Hauptverfasser:	Baryshev, S. V., Becker, N. G., Zinovev, A. V., Tripa, C. E., Veryovkin, I. V.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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