Reliability estimation from zero-failure LiNbO3 modulator bias drift data

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE photonics technology letters 2004-06, Vol.16 (6), p.1477
Hauptverfasser:	Nagata, H, Li, Yagang, Maack, D.R, Bosenberg, W.R
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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