The [Formula Omitted]-Junction as the Key to Improved Ruggedness and Soft Recovery of Power Diodes

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE transactions on electron devices 2009-11, Vol.56 (11), p.2825
Hauptverfasser:	Lutz, J, Baburske, R, Min Chen, Min Chen, Heinze, B, Domeij, M, Felsl, H.-P, Schulze, H.-J
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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