Nanoanalysis of interfacial chemistry

In recent years, atom probe tomography has advanced to an outstanding tool of analyzing interfacial chemistry in nanostructured materials. In this article, quantitative measurements of the natural width of multilayer interfaces and of segregation at grain boundaries and even at separate triple junct...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:JOM (1989) 2010-12, Vol.62 (12), p.58-63
Hauptverfasser: Schmitz, G., Ene, C., Galinski, H., Schlesiger, R., Stender, P.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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