52.1: Invited Paper: Analysis of TADF‐OLED degradation induced by extrinsic impurities

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	SID International Symposium Digest of technical papers 2022-10, Vol.53 (S1), p.504-505
1. Verfasser:	Harada, Kentaro
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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