The relationship between workplace incivility, burnout and organizational cynicism: A research for academicians

Rekabetin hızla arttığı ve başarı odaklı çalışmanın öneminin sürekli hatırlatıldığı günümüz örgüt yapılarında yönetici ve çalışanlar üzerindeki stres ve baskının artması olası bir durumdur. Günümüzde yaşanan teknolojik gelişmeler her ne kadar çalışma koşullarını geçmişe göre iyileştirse de, oluşan b...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Business & management studies: an international journal 2022-01, Vol.10 (2), p.644
1. Verfasser: ÇİNİ, Mehmet Akif
Format: Artikel
Sprache:tur
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Rekabetin hızla arttığı ve başarı odaklı çalışmanın öneminin sürekli hatırlatıldığı günümüz örgüt yapılarında yönetici ve çalışanlar üzerindeki stres ve baskının artması olası bir durumdur. Günümüzde yaşanan teknolojik gelişmeler her ne kadar çalışma koşullarını geçmişe göre iyileştirse de, oluşan bu baskı karşısında çaresiz kalmaktadır. Oluşan bu baskı nedeniyle çoğu zaman örgütlerde iş yeri nezaketsizliği, tükenmişlik ve örgütsel sinizm gibi istenmeyen durumlar meydana gelmektedir. Bu çalışmanın amacı akademisyenler açısından hangi değişkenlerin iş yeri nezaketsizliği ve tükenmişlik oluşturduğunun belirlenmesi ve bu değişkenlerin örgütsel sinizmle ilişkili olup olmadığının tespit edilmesidir. Çalışmanın örneklemi yükseköğretim kurumlarında görev yapan akademisyenler olarak belirlenmiştir. Analiz yöntemi olarak nitel araştırma yöntemleri tercih edilmiş, veriler mülakatlar aracılığıyla elde edilmiş ve analizler için MAXQDA 20 programı kullanılmıştır. Çalışma sonucunda iş yeri nezaketsizliği açısından; duygusal istismar, çalışma şartlarının kontrolü ve manipülasyonu, mesleki devalüasyon, tükenmişlik açısından; duygusal tükenmişlik ve kişisel başarının azalma eğilimi örgütsel sinizmle en fazla etkileşime giren değişkenler olmuştur.
ISSN:2148-2586
2148-2586
DOI:10.15295/bmij.v10i2.2000