Electron Image Reconstruction for Pixelated Semiconductor Tracking Detectors Based on Neural Networks

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2022-08, Vol.28 (S1), p.3040-3042
Hauptverfasser:	Eckert, B., Aschauer, S., Hedley, E., Huth, M., Majewski, P., Strüder, L.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Artificial Intelligence, Instrument Automation, And High-dimensional Data Analytics for Microscopy and Microanalysis Cross-Cutting Symposia Electron imaging Energy Image processing Image reconstruction Monte Carlo simulation Neural networks Sensors
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