Advanced Crack Analytics on 3D X-ray Tomography of Irradiated Silicon Carbide Claddings

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2022-08, Vol.28 (S1), p.208-210
Hauptverfasser: Xu, Fei, Kane, Joshua J., Xu, Peng, Cordes, Nikolaus, Schulthess, Jason L., Cinbiz, Mahmut Nedim, Gonderman, Sean, Deck, Christian, Gazza, Jack
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S1431927622001696