Direct Measurement of Atomic Reconstruction, Strain, and Disorder in Moiré Materials using 4D-STEM

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2022-08, Vol.28 (S1), p.1764-1766
Hauptverfasser:	Van Winkle, Madeline, Kazmierczak, Nathanael P., Ophus, Colin, Bustillo, Karen C., Carr, Stephen, Brown, Hamish G., Ciston, Jim, Kwabena Bediako, D.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Graphene Microscopy Physical Sciences Symposia Quantum Materials Under Electron Beam: From Atomic Structures to Working Devices Shear strain
Online-Zugang:	Volltext
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