Volume Imaging By Tracking Sparse Topological Features In Electron Micrograph Tilt Series

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2022-08, Vol.28 (S1), p.242-244
Hauptverfasser:	Petersen, T. C., Zhao, C., Bøjesen, E. D., Broge, N. L. N., Hata, S., Liu, Y., Etheridge, J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advanced 3D Imaging and Analysis Methods for New Opportunities in Material Science Algorithms Analytical Sciences Symposia Electron micrographs Microscopy Morphology Tomography
Online-Zugang:	Volltext
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