Intelligent and Automatic Parameter Optimization for High-resolution Electron Ptychography

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2022-08, Vol.28 (S1), p.3102-3103
Hauptverfasser:	Cao, Michael C., Chen, Zhen, Jiang, Yi, Han, Yimo
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Artificial Intelligence, Instrument Automation, And High-dimensional Data Analytics for Microscopy and Microanalysis Cross-Cutting Symposia Optimization
Online-Zugang:	Volltext
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