Intelligent and Automatic Parameter Optimization for High-resolution Electron Ptychography

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2022-08, Vol.28 (S1), p.3102-3103
Hauptverfasser: Cao, Michael C., Chen, Zhen, Jiang, Yi, Han, Yimo
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S1431927622011552