Cryo-FIB and Transmission Electron Microscopy of Cryoformed Metals

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2022-08, Vol.28 (S1), p.40-42
Hauptverfasser:	Senra, Ana Luisa Terasawa, Huber, Daniel E., Namur, Ricardo S., Ramirez, Antonio J., Cintho, Osvaldo M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advances in Focused Ion Beam Instrumentation, Applications and Techniques in Materials and Life Sciences Analytical Sciences Symposia Cryoforming Metals Transmission electron microscopy
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