Annealing High-Voltage 4H-SiC Schottky Diodes Irradiated with Electrons at a High Temperature

The effect of annealing on the parameters of 4 H -SiC Schottky diodes irradiated with electrons at a high temperature is studied for the first time. The electron energy is 0.9 MeV, irradiation is carried out at temperatures of 23, 300, and 500°C with fluences Φ in the 1 × 10 16 –1.3 × 10 17 cm –2 ra...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Semiconductors (Woodbury, N.Y.) N.Y.), 2022-03, Vol.56 (3), p.189-194
Hauptverfasser: Lebedev, A. A., Kozlovski, V. V., Levinshtein, M. E., Malevsky, D. A., Oganesyan, G. A., Strel’chuk, A. M., Davydovskaya, K. S.
Format: Artikel
Sprache:eng
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