Annealing High-Voltage 4H-SiC Schottky Diodes Irradiated with Electrons at a High Temperature
The effect of annealing on the parameters of 4 H -SiC Schottky diodes irradiated with electrons at a high temperature is studied for the first time. The electron energy is 0.9 MeV, irradiation is carried out at temperatures of 23, 300, and 500°C with fluences Φ in the 1 × 10 16 –1.3 × 10 17 cm –2 ra...
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Veröffentlicht in: | Semiconductors (Woodbury, N.Y.) N.Y.), 2022-03, Vol.56 (3), p.189-194 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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