Erratum to: Electron Microscopy Study of Surface Islands in Epitaxial Ge3Sb2Te6 Layer Grown on a Silicon Substrate

Erratum to: Electron Microscopy Study of Surface Islands in Epitaxial Ge3Sb2Te6 Layer Grown on a Silicon Substrate

An Erratum to this paper has been published: https://doi.org/10.1134/S1063774521330014

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Crystallography reports 2021, Vol.66 (6), p.1167-1167
Hauptverfasser: Zaytseva, Yu. S., Borgardt, N. I., Prikhodko, A. S., Zallo, E., Calarco, R.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Crystallography and Scattering Methods
Erratum
Physics
Physics and Astronomy
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:An Erratum to this paper has been published: https://doi.org/10.1134/S1063774521330014
ISSN:1063-7745
1562-689X
DOI:10.1134/S1063774521330014