Probing thermal and acoustic dynamics of inverse silicon metallatices

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2019-08, Vol.25 (S2), p.2174-2175
Hauptverfasser:	Bevis, C., Abad, B., Knobloch, J., Frazer, T., Adak, A., Hernández-Charpak, J., Cheng, H., Grede, A., Giebink, N., Nova, N., Mallouk, T., Mahale, P., Chen, W., Xiong, Y., Dabo, I., Crespi, V., Talreja, D., Kapteyn, H., Gopalan, V., Badding, J., Murnane, M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Microscopy and Spectroscopy of Nanoscale Materials for Energy Applications Physical Science Symposia
Online-Zugang:	Volltext
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