Mapping Non-Crystalline Nanostructure in Beam Sensitive Systems With Low-dose Scanning Electron Pair Distribution Function Analysis

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2019-08, Vol.25 (S2), p.1636-1637
Hauptverfasser:	Laulainen, Joonatan E. M., Johnstone, Duncan N., Bogachev, Ivan, Collins, Sean M., Longley, Louis, Bennett, Thomas D., Midgley, Paul A.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Distribution functions Function analysis Physical Science Symposia Revealing the Fundamental Structure of Soft and Hard Matter by Minimizing Beam-Sample Interactions
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