Latest Generation of Silicon Drift Detectors and Readout Electronics

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2019-08, Vol.25 (S2), p.558-559
Hauptverfasser:	Pahlke, Andreas, Dams, Florian, Fojt, Reinhard, Fraczek, Michael, Knobloch, Jürgen, Luckey, Christian, Miyakawa, Natsuki, Willems, Niklas
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical and Instrumentation Science Symposia Vendor Symposium
Online-Zugang:	Volltext
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