Ultrafast Laser-Pump Electron-Probe Microscopy for Imaging Semiconductor Carrier Dynamics

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2019-08, Vol.25 (S2), p.2000-2001
Hauptverfasser:	Garming, Mathijs W.H., Weppelman, I.G. (Gerward) C., Kruit, Pieter, Hoogenboom, Jacob P.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Microscopy and Spectroscopy of Nanoscale Materials for Energy Applications Physical Science Symposia Ultrafast lasers
Online-Zugang:	Volltext
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