An Integrated Workflow To Investigate Electrocatalytic Surfaces By Correlative X-ray Photoemission Spectroscopy, Scanning Photoemission Electron Microscopy and Atom Probe Tomography

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2019-08, Vol.25 (S2), p.306-307
Hauptverfasser:	Schweinar, Kevin, Kasian, Olga, Nicholls, Rachel L., Rajamathi, Catherine R., Zeller, Patrick, Amati, Matteo, Gregoratti, Luca, Raabe, Dierk, Greiner, Mark, Gault, Baptiste
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical and Instrumentation Science Symposia Electron microscopy Photoelectric emission Recent Developments in Atom Probe Tomography Spectroscopy Workflow
Online-Zugang:	Volltext
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