3D Microstructure Characterization of a Silicon Based Anode Material on Different Length Scales suitable for Storage Applications

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2019-08, Vol.25 (S2), p.356-357
Hauptverfasser: Vorauer, T., Kumar, P., Chamasemani, F. F., Rosc, J., Fuchsbichler, B., Koller, S., Helfen, L., Jouneau, P.H., Lyonnard, S., Brunner, R.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S1431927619002514