Raman Microscopy Imaging Using Fluctuation

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Veröffentlicht in:	Journal of the Japan Society for Precision Engineering 2021/09/05, Vol.87(9), pp.740-743
1. Verfasser:	KAWATA, Satoshi
Format:	Artikel
Sprache:	jpn
Schlagworte:	confocal microscopy entropy plasmonics probability Raman scattering microscopy Raman scattering spectroscopy random walk stochastic process
Online-Zugang:	Volltext
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