Atomic-scale imaging of flexoelectric polarization around engineered crack tips

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2021-08, Vol.27 (S1), p.2332-2333
Hauptverfasser:	Wang, Hongguang, Boschker, Hans, Jiang, Xijie, Wang, Yi, Stark, Robert, Mannhart, Jochen, van Aken, Peter A.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advanced Imaging and Spectroscopy for Nanoscale Materials Characterization Crack tips Physical Sciences Symposia
Online-Zugang:	Volltext
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