An XHV atom probe with ultra-low hydrogen background

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2021-08, Vol.27 (S1), p.1266-1267
Hauptverfasser:	Felfer, Peter, Ott, Benedict, Heller, Martina, Macauley, Chandra
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advanced Application of Atom Probe Tomography: Specimen preparation, Instrumentation, and Data analysis Physical Sciences Symposia
Online-Zugang:	Volltext
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