Adaptive Focused Ion Beam Milling through Machine Learning Algorithm Integration

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2021-08, Vol.27 (S1), p.1624-1624
Hauptverfasser:	Turnquist, Max, Lewis, Peter, Lau, Troy, Brundage, Elizabeth, Magyar, Andrew
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Algorithms Full System and Workflow Automation for Enabling Big Data and Machine Learning in Electron Microscopy Ion beams Learning algorithms Machine learning Milling (machining) Physical Sciences Symposia
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