A transient ionizing radiation SPICE model for PDSOI MOSFET
In this paper, a transient ionizing radiation SPICE model for PDSOI MOSFET is proposed for the simulation of the rail‐span collapse. It is based on the present understanding of transient ionizing radiation effects. The model accounts for the generation and collection of radiation induced transient p...
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Veröffentlicht in: | Microwave and optical technology letters 2021-08, Vol.63 (8), p.2103-2107 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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