A transient ionizing radiation SPICE model for PDSOI MOSFET

In this paper, a transient ionizing radiation SPICE model for PDSOI MOSFET is proposed for the simulation of the rail‐span collapse. It is based on the present understanding of transient ionizing radiation effects. The model accounts for the generation and collection of radiation induced transient p...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microwave and optical technology letters 2021-08, Vol.63 (8), p.2103-2107
Hauptverfasser: Gao, Libo, Du, Chuanhua, Bu, Jianhui, Li, Jiangjiang, Ma, Quangang, Zhao, Fazhan, Zeng, Chao, Gao, Jiantou, Li, Duoli, Zeng, Chuanbin, Han, Zhengsheng, Luo, Jiajun
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!