Extract High Resolution 3D Quantitative Elemental Map Using a Combined HAADF-STEM and EDS Tomography

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2020-08, Vol.26 (S2), p.1854-1855
Hauptverfasser:	Yuan, Yu, Brodusch, Nicolas, Voisard, Frédéric, Nijikovsky, Boris, Moores, Audrey, Gauvin, Raynald
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	FIB-SEM Technology and Electron Tomography for Materials Science and Engineering
Online-Zugang:	Volltext
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