Advanced Analytical Capabilities on FIB Instruments Using SIMS

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2020-08, Vol.26 (S2), p.82-83
Hauptverfasser:	Wirtz, Tom, Castro, Olivier De, Biesemeier, Antje, Hoang, Hung Quang, Audinot, Jean-Nicolas
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Surface and Subsurface Microscopy and Microanalysis of Physical and Biological Specimens - Applications of Secondary Ion Mass Spectrometry to Organic and Material Systems
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