Atomic Electron Tomography: Past, Present and Future

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2020-08, Vol.26 (S2), p.652-654
Hauptverfasser:	Miao, Jianwei, Tian, Xuezeng, Kim, Dennis, Zhou, Jihan, Yang, Yongsoo, Yang, Yao, Yuan, Yakun, Ophus, Colin, Schmid, Andreas, Yang, Shize, Sun, Fan, Ciccarino, Christopher, Duschatko, Blake, Idrobo, Juan-Carlos, Narang, Prineha, Zeng, Hao, Ercius, Peter
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	FIB-SEM Technology and Electron Tomography for Materials Science and Engineering
Online-Zugang:	Volltext
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