A Self-Supervised Workflow for Particle Picking in Cryo-EM

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2020-08, Vol.26 (S2), p.2314-2314
Hauptverfasser: Liu, Qun, McSweeney, Donal, McSweeney, Sean
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S1431927620021169