Mochii ISS-NL: Electron Microscopy Has Arrived at the International Space Station

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2020-08, Vol.26 (S2), p.1578-1581
Hauptverfasser: Own, Christopher, Martinez, James, DeRego, Theodore, Own, Lawrence, Morales, Zachary, Thomas-Keprta, Katherine, Rahman, Zia, Pettit, Donald
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S1431927620018590