Imaging of Electrons with Tracking and Counting Detectors for (S)TEM Applications

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2020-08, Vol.26 (S2), p.1180-1181
Hauptverfasser:	Eckert, Björn, Strueder, Lothar, Aschauer, Stefan, Majewski, Petra, Zabel, Thomas
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advances in Modeling, Simulation, and Artificial Intelligence in Microscopy and Microanalysis for Physical and Biological Systems Energy Microscopy Sensors Signal to noise ratio
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