New EPMA-XRF Integration Allows Rapid Trace Element Analysis of Geological Materials

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2020-08, Vol.26 (S2), p.1882-1883
Hauptverfasser: Wakimoto, Rie, Yokoyama, Takaomi, Tsukamoto, Kazunori, Kato, Koki, Robertson, Vernon
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S1431927620019698